
Sensorfabrikant SICK heeft zijn Nova 3D machine vision platform uitgebreid met AI functionaliteiten, wat meer geavanceerde kwaliteitscontroles mogelijk maakt. Onafhankelijk van kleurcontrast, schaduwen en andere belichtingseffecten kan het systeem anomalieën detecteren zoals afwijkende verpakkingen en ontbrekende componenten in assemblage.
In 3D machine vision meet een sensor voor elke pixel de afstand tot een object, wat een beeld geeft dat niet beïnvloed wordt door belichtingsfactoren. Dankzij artificiële intelligentie kan de Nova software van SICK nu meer geavanceerde kwaliteitscontroles uitvoeren dan wat voordien mogelijk was met een klassieke systeem gebaseerd op deterministische regels.
De AI maakt gebruik van deep learning algoritmes die getraind worden met voorbeelden. Zo kan elke gebruiker het systeem afstemmen op zijn applicatie. Het trainen en de applicatie gebeuren met hetzelfde toestel waardoor nieuwe applicaties snel opgestart kunnen worden.
“Door neurale netwerk-AI te integreren in ons hoogwaardige Nova-platform verleggen we de grenzen van traditionele 3D-inspectie. Het systeem kijkt veel verder dan het menselijk oog en biedt meer controle over gegevens en analyses”, zegt Diego Quintana Tukasaki, Market Product Manager bij SICK.
Een van de mogelijke toepassingen is het controleren van verpakkingen waarbij vervormingen die met een klassiek visiesysteem nauwelijks of niet te zien zijn, met het 3D systeem wel zichtbaar worden. Het systeem kan ook makkelijk lege dozen of ontbrekende objecten in transportbakken detecteren. In assemblage kan het eventueel ontbreken van componenten gecontroleerd worden – bijvoorbeeld in de elektronica.
Door 3D visie te combineren met AI ontstaat een ruimtelijk inzicht die dit soort geavanceerde toepassingen mogelijk maakt. Het is de eerste keer dat SICK intelligente AI-functionaliteiten toevoegt aan zijn uiterst nauwkeurige en betrouwbare 3D-machine vision-technologie en de Nova Intelligent Inspection toolset.
© Productivity.be, 06/08/2026